Κοραή 31, Μοσχάτο
info@inquality.gr
Υπηρεσίες & Εξοπλισμός Ποιοτικού Ελέγχου

Σταθεροί Φασματογράφοι XRF Πολύτιμων ΜετάλλωνΣταθερός Φασματογράφος XRF CDO9600 OCADO (για ανάλυση πολύτιμων μετάλλων)

SKU: CDOCAST 9600

Σταθερός Φασματογράφος XRF CDO9600 OCADO (για ανάλυση πολύτιμων μετάλλων)

Σταθερός Φασματογράφος XRF CDO9600 του οίκου CODCAST. Σχεδιασμένος ειδικά για ανάλυση πολύτιμων μετάλλων. Διαθέτει ανιχνευτή Si-Pin (κατασκευή στις Η.Π.Α) για μέγιστη ακρίβεια.

SKU: CDOCAST 9600

Περιγραφή

Ο εξειδικευμένος οίκος OCADO στην κατασκευή συστημάτων για εταιρείες που δραστηριοποιούνται στον χώρο των πολύτιμων μετάλλων, προσφέρει τον σταθερό φασματογράφο XRF CDO9600.
O φασματογράφος XRF CDO9600 διαθέτει ειδική βαθμονόμηση για την ανάλυση των πολύτιμων μετάλλων.
Δύναται να μετρήσει όλα τα στοιχεία από S μέχρι U (Au, Ag, Cu, Pt, Pd, Rh, Ir και πολλά άλλα).
Ο συγκεκριμένος φασματογράφος διαθέτει ανιχνευτή Si-Pin (κατασκευής Η.Π.Α) για μέγιστη ακρίβεια (0,05%).
Ακόμα, διαθέτει ενσωματωμένη οθόνη αφής με Η/Υ με λειτουργικό Windows και εγκατεστημένο το εξελιγμένο λογισμικό XRF 7.0.
H όποια τυχόν αναβάθμιση μπορεί να πραγματοποιηθεί απομακρυσμένα από τον ίδιο τον κατασκευαστή. Ο φασματογράφος συνδέεται στο διαδίκτυο μέσω Wifi και οι τεχνικοί του κατασκευαστή αποκτούν πρόσβαση.
Η βαθμονόμηση του είναι απλή και γρήγορη.
Επιπλέον, είναι κατασκευασμένος ώστε να έρχεται σε συμμόρφωση με όλα τα πρότυπα ασφαλείας προστασίας από ακτινοβολία.

  • Ειδική βαθμονόμηση για πολύτιμα μέταλλα
    Ο φασματογράφος XRF CDO9600 είναι ειδικά βαθμονομημένος ώστε να παρέχει την μέγιστη ακρίβεια σε αναλύσεις στοιχείων όπως Au, Ag, Pt, Pd κ.ά
  • Ανιχνευτής Si-Pin (κατασκευή Η.Π.Α)
    Διαθέτει ανιχνευτή Si-Pin (κατασκευή Η.Π.Α) για την μέγιστη ακρίβεια και εγγυημένη αξιοπιστία
  • Απομακρυσμένος έλεγχος
    Οι τεχνικοί του κατασκευαστή μπορούν να συνδεθούν απομακρυσμένα με τον φασματογράφο μέσω WiFi για να πραγματοποιήσουν την όποια τυχόν αναβάθμιση
  • Ενσωματωμένος Η/Υ
    Ο σταθερός φασματογράφος XRF διαθέτει ενσωματωμένη οθόνη αφής με λειτουργικό Windows και εγκατεστημένο το λογισμικό XRF 7.0 για τις απαιτούμενες αναλύσεις
  • Εύρος ανάλυσης: Από 1ppm έως 99,99% των συγκεντρώσεων
  • Στοιχεία ανάλυσης: Όλα τα στοιχεία από S μέχρι U όπως π.χ. (Au, Ag, Cu, Pt, Pd, Rh, Ir και πολλά άλλα)
  • Ακρίβεια: 0,05%
  • Ένδειξη σε καράτια και ποσοστό
  • Τύπος ανιχνευτή: Si-Pin (κατασκευή στις Η.Π.Α)
  • Μορφή δείγματος: Στερεή, σκόνη, υγρή
  • Διάρκεια δοκιμής: 10-60 δευτερόλεπτα
  • Περιοχή δοκιμής: 1-2mm +<40μm
  • Ειδικά σχεδιασμένο για να καλύπτει ακριβώς τα πρότυπα ασφαλείας για προστασία από ακτινοβολία
  • Ενσωματωμένη οθόνη αφής με Η/Υ
  • Λογισμικό XRF. 7.0
  • Βάρος: 40kg
  • Διαστάσεις: 650x450x350mm